當前位置:會議介紹 > 會議基本信息 首屆國際電子測試與測量專業(yè)研討會 測試與測量技術是信息產(chǎn)業(yè)的三大關鍵技術之一,隨著中國電子信息產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展,測試測量技術及相關的儀器儀表已成為信息化帶動工業(yè)化的重要紐帶。當前我國有各類儀器儀表企業(yè)6000余家,年銷售額約1000億元,已形成門類較齊全,具有一定技術基礎和生產(chǎn)規(guī)模的工業(yè)體系。另據(jù)統(tǒng)計,2002年進口電子測試測量儀器達到56億美元,充分顯示了國內(nèi)市場對電子測量測試產(chǎn)品的巨大需求。 展望21世紀,以集成化、數(shù)字化、智能化、網(wǎng)絡化為代表的高端儀器產(chǎn)品漸成新秀,電子測量儀器行業(yè)面臨著新的發(fā)展機遇與挑戰(zhàn)。為了進一步促進現(xiàn)代電子測試技術的發(fā)展,給業(yè)內(nèi)人士提供一個面對面交流和探討電子測試技術的機會,中國電子器材總公司聯(lián)合中國電子儀器行業(yè)協(xié)會將在全國電子產(chǎn)品展覽會(以下簡稱NEF)同期舉辦“首屆國際電子測試與測量專業(yè)研討會”。 研討會將邀請政府行業(yè)主管領導介紹電子測試與測量的產(chǎn)業(yè)政策和宏觀發(fā)展態(tài)勢;邀請國內(nèi)外業(yè)界專家作專題技術報告;并邀請國內(nèi)外儀器儀表廠商和電子測試與測量專業(yè)技術人員就當前業(yè)內(nèi)的熱點、難點等問題作實質性的探討和研究。為配合本屆電子測試與測量專題研討會的召開,在第62屆NEF上專門開辟儀器儀表專區(qū),薈萃了國內(nèi)外300余家著名儀器儀表廠商的最新產(chǎn)品。 NEF自1964年以來,已成功舉辦了61屆,是國內(nèi)歷史最久、規(guī)模最大,唯一得到信息產(chǎn)業(yè)部和商務部支持的專業(yè)電子展會,系亞洲電子展覽聯(lián)盟成員,與日本電子展、韓國電子展、臺灣電子展、香港電子展并稱為亞洲五大電子展會。 NEF組委會依托40年累積的客戶資源,并邀請航空、航天、船舶、兵器、核工業(yè)、電子研究院所、大專院校等單位專業(yè)聽眾參加技術講座。這次盛會必將成為您了解、評估、比較、選擇自身業(yè)務發(fā)展的新產(chǎn)品、新技術、解決方案及服務的最佳平臺! 會議地點: 上海光大會展中心國際大酒店8號廳 會議時間: 2003年11月19日-20日 會議主題: 新型電子測試測量技術 會議宗旨: 促進中外技術交流,振興民族電子測試與測量技術 展覽會時間: 2003年11月18日-21日 上海光大會展中心 |