牛津儀器在廬山舉行了2008年度的用戶研討會
http://007sbw.cn 2008-08-04 11:13 來源:儀器儀表信息網
2008年7月21日到25日,牛津儀器納米分析儀器部在廬山舉行了2008年度的用戶研討會。此次會議邀請到來自全國各地超過100位用戶,專家,學者以及牛津的新老朋友。
牛津儀器亞太區(qū)銷售經理Jonathan Bryon 和區(qū)域售后主管David Craig分別致了開幕詞,牛津儀器中國區(qū)首席代表張鵬對牛津儀器集團作了全貌介紹,牛津儀器納米分析儀器部的銷售經理馮駿和售后服務經理陸先慧為大家介紹了2008年分析儀器部各方面的進展和狀況。
會議還邀請到了很多專家學者一起分享經驗, 楊銀祥教授:硅漂移探測器發(fā)展歷史及其最新進展,趙文霞老師:能譜儀在材料科學中的應用實例,牛津儀器焦匯勝:薄膜材料成份和厚度的能譜分析,中科院硅酸鹽所李香庭:EDS定量結果解讀及誤差分析,標樂公司李明:EBSD樣品制備技術,青島科技大學張乾:納米銅粒子在乙炔聚合過程中的形變,核工業(yè)理化分析寇益強:超高強鋁合金模鍛件開裂原因分析,株洲鉆石刀具公司高躍紅:INCA軟件在梯度硬質合金涂層切削刀具中的應用,崇義章源鎢制品楊邁莉:梯度硬質合金刀片的掃描電鏡觀察等。
廬山用戶研討會圓滿的結束,各位同仁們,思想滾滾地渡過了愉快的一周,誠邀各位用戶明年繼續(xù)參加我們的會議!再續(xù)友誼!