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弱光檢測通常是先將光信號通過光電器件轉(zhuǎn)換成電信號，再經(jīng)前置放大電路放大后，由A/D轉(zhuǎn)換電路將模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號進行分析處理。弱光檢測技術(shù)廣泛應用于現(xiàn)代通信、醫(yī)療和科研等領(lǐng)域。弱光檢測電路一個重要性能指標是對噪聲的濾除能力，但在弱光檢測時，光信號與噪聲幾乎處于同一數(shù)量級，信號很容易淹沒在噪聲中，不利于后續(xù)電路處理。傳統(tǒng)方法是采用電路級聯(lián)來濾除干擾，放大信號;但這種電路需用精密電阻，且設(shè)計復雜，電路體積大，可靠性差。隨著集成對數(shù)放大電路的發(fā)展，其寬動態(tài)范圍、高精確輸出的顯著特點，光檢測電路也得到不斷發(fā)展與完善，對數(shù)電路具有優(yōu)異的數(shù)據(jù)壓縮性能，可將很寬的輸入動態(tài)范圍信號壓縮在很窄的電壓范圍內(nèi)。因此，這里提出一種以LOGl00作為前置放大的弱光檢測電路設(shè)計方案。
1 電路設(shè)計與分析
1.1 光電轉(zhuǎn)換電路
圖1為光電檢測電路。該檢測電路是由放大器A，反饋電阻RF和CF組成，其輸出電壓為u1=SPRF，其中，S為光電二極管的靈敏度，P為入射光功率。在檢測弱光信號時，RF為提高增益，RF的取值應選擇盡可能大，放大器的輸入偏置電流IB和輸入失調(diào)電壓VB對輸出電壓的影響分別為IBRF和 
，即在電路中可通過給定基準電壓μ2實現(xiàn)。光電檢測部分電路的輸出電壓一般只有mV量級，同時根據(jù)LOGl00器件要求，其輸入電流要在l nA～l mA，I1，I2的比值要在l05以內(nèi)。故圖1中的輸入電阻R11，R21選擇在幾十kΩ，以保證對數(shù)電路輸出精確度，根據(jù)這些要求，μ2值設(shè)定為幾mV。
因光電轉(zhuǎn)換電路的增益很高，雖然采用精密放大電路，并使用RF和CF限制信號頻帶，但幾乎對所有的輸入光信號，其輸出噪聲都非常高。圖2(a)為P=0.7nW時光電轉(zhuǎn)換電路的輸出波形，可以看出，噪聲與信號在同一個數(shù)量級，噪聲與信號峰值比接近l，如果以這樣的輸出直接進行A/D轉(zhuǎn)換，將使數(shù)據(jù)的準確性大打折扣，雖然可以通過單片機程序中的濾噪子程序來降低數(shù)據(jù)的出錯概率，但軟件模擬功能具有一定的局限性，可能無法得到準確的數(shù)據(jù)輸出。圖2(b)是通過前置放大電路處理后的輸出信號，其波形較光滑，噪信峰值比降低至O.02以下，幾乎不用軟件濾噪可以將A/D轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)直接進行后續(xù)處理。由此可見，LOGl00作為前置放大電路在放大有用信號的同時，也有效抑制了噪聲，其具體測量數(shù)據(jù)與理論計算結(jié)果差距較小，完全可滿足設(shè)計要求。圖3所示為輸入光功率在1.4 nW時理論值(虛線)與測量值(實線)相差不到0.1 V。
為不同入射光功率P下前置放大電路的輸出VOUT波形，從圖4可以看出，輸入光信號的強度幾百pW的微弱改變時，LOGl00的輸出信號幅度有幾百mV的明顯變化，這使得在A/D轉(zhuǎn)換時可最大限度地采集不同光源強度的數(shù)據(jù)。然而LOGl00也有其不足之處。由圖4可見，隨著輸入光強度的減弱，輸出信號中噪聲逐漸增強，當噪聲與信號相比增大到一定程度后，可能會使A/D轉(zhuǎn)換電路輸出錯誤，這時必須采用軟件進行濾噪處理。因此LOGl00一般用在檢測弱光信號電路中，在微弱光信號檢測中，LOGl00的輸出信噪比較小，還需精密濾波電路輔助，這不但增加了電路的復雜性，也使其輸出數(shù)據(jù)的準確度大大降低，從而不能進行實際應用。
要解決這個問題，可考慮使用精度更高的LOGl01和LOGl04作為前置放大電路，與LOGl00相比，它們具有更寬的動態(tài)輸入范圍100 pA～3.5 mA，精確度可達0.01%FSO。LOGl01和LOGl04采用恒定增益，在電路中使用靈活性方面不如LOGl00。在內(nèi)部沒有集成激光校準電阻，但直流偏移電壓低，且能在很寬的溫度范圍(-5～75℃)內(nèi)精確輸出，因此更適合使用于微弱光信號檢測電路中。
3 結(jié)論
討論了LOGl00在弱光檢測應用中的噪聲濾除性能，實測結(jié)果表明LOGl00有較強的噪聲抑制能力，在弱光檢測中可作為前置放大電路。但當輸入信號逐漸減弱時，噪聲抑制能力也較弱，不適宜使用在微弱光信號檢測中。
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