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開關(guān)模式電源電流檢測(cè)——第三部分:電流檢測(cè)方法
亞德諾
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開關(guān)模式電源有三種常用電流檢測(cè)方法是:使用檢測(cè)電阻,使用MOSFET RDS(ON),以及使用電感的直流電阻(DCR)。每種方法都有優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn),選擇檢測(cè)方法時(shí)應(yīng)予以考慮。

檢測(cè)電阻電流

作為電流檢測(cè)元件的檢測(cè)電阻,產(chǎn)生的檢測(cè)誤差最低(通常在1%和5%之間),溫度系數(shù)也非常低,約為100 ppm/°C (0.01%)。在性能方面,它提供精度最高的電源,有助于實(shí)現(xiàn)極為精確的電源限流功能,并且在多個(gè)電源并聯(lián)時(shí),還有利于實(shí)現(xiàn)精密均流。

1.RSENSE電流檢測(cè)

另一方面,因?yàn)殡娫丛O(shè)計(jì)中增加了電流檢測(cè)電阻,所以電阻也會(huì)產(chǎn)生額外的功耗。因此,與其他檢測(cè)技術(shù)相比,檢測(cè)電阻電流監(jiān)測(cè)技術(shù)可能有更高的功耗,導(dǎo)致解決方案整體效率有所下降。專用電流檢測(cè)電阻也可能增加解決方案成本,雖然一個(gè)檢測(cè)電阻的成本通常在0.05美元至0.20美元之間。

選擇檢測(cè)電阻時(shí)不應(yīng)忽略的另一個(gè)參數(shù)是其寄生電感(也稱為有效串聯(lián)電感或ESL)。檢測(cè)電阻可以用一個(gè)電阻與一個(gè)有限電感串聯(lián)來正確模擬。

2.RSENSE ESL模型

此電感取決于所選的特定檢測(cè)電阻。某些類型的電流檢測(cè)電阻,例如金屬板電阻,具有較低的ESL,應(yīng)優(yōu)先使用。相比之下,繞線檢測(cè)電阻由于其封裝結(jié)構(gòu)而具有較高的ESL,應(yīng)避免使用。一般來說,ESL效應(yīng)會(huì)隨著電流的增加、檢測(cè)信號(hào)幅度的減小以及布局不合理而變得更加明顯。電路的總電感還包括由元件引線和其他電路元件引起的寄生電感。電路的總電感也受到布局的影響,因此必須妥善考慮元件的布局,不恰當(dāng)?shù)牟季挚赡苡绊懛(wěn)定性并加劇現(xiàn)有電路設(shè)計(jì)問題。

檢測(cè)電阻ESL的影響可能很輕微,也可能很嚴(yán)重。ESL會(huì)導(dǎo)致開關(guān)柵極驅(qū)動(dòng)器發(fā)生明顯振蕩,從而對(duì)開關(guān)導(dǎo)通產(chǎn)生不利影響。它還會(huì)增加電流檢測(cè)信號(hào)的紋波,導(dǎo)致波形中出現(xiàn)電壓階躍,而不是預(yù)期的如圖3所示的鋸齒波形。這會(huì)降低電流檢測(cè)精度。

3.RSENSE ESL可能會(huì)對(duì)電流檢測(cè)產(chǎn)生不利影響。

為使電阻ESL最小,應(yīng)避免使用具有長(zhǎng)環(huán)路(如繞線電阻)或長(zhǎng)引線(如厚電阻)的檢測(cè)電阻。薄型表面貼裝器件是首選,例子包括板結(jié)構(gòu)SMD尺寸0805、1206、2010和2512,更好的選擇包括倒幾何SMD尺寸0612和1225。

基于功率MOSFET的電流檢測(cè)

利用MOSFET RDS(ON)進(jìn)行電流檢測(cè),可以實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單且經(jīng)濟(jì)高效的電流檢測(cè)。LTC3878是一款采用這種方法的器件。它使用恒定導(dǎo)通時(shí)間谷值模式電流檢測(cè)架構(gòu)。頂部開關(guān)導(dǎo)通固定的時(shí)間,此后底部開關(guān)導(dǎo)通,其RDS壓降用于檢測(cè)電流谷值或電流下限。

4.MOSFET RDS(ON)電流檢測(cè)

雖然價(jià)格低廉,但這種方法有一些缺點(diǎn)。首先,其精度不高,RDS(ON)值可能在很大的范圍內(nèi)變化(大約33%或更多)。其溫度系數(shù)可能也非常大,在100°C以上時(shí)甚至?xí)^80%。另外,如果使用外部MOSFET,則必須考慮MOSFET寄生封裝電感。這種類型的檢測(cè)不建議用于電流非常高的情況,特別是不適合多相電路,此類電路需要良好的相位均流。

電感DCR電流檢測(cè)

電感直流電阻電流檢測(cè)采用電感繞組的寄生電阻來測(cè)量電流,從而無需檢測(cè)電阻。這樣可降低元件成本,提高電源效率。與MOSFET RDS(ON)相比,銅線繞組的電感DCR的器件間偏差通常較小,不過仍然會(huì)隨溫度而變化。它在低輸出電壓應(yīng)用中受到青睞,因?yàn)闄z測(cè)電阻上的任何壓降都代表輸出電壓的一個(gè)相當(dāng)大部分。將一個(gè)RC網(wǎng)絡(luò)與電感和寄生電阻的串聯(lián)組合并聯(lián),檢測(cè)電壓在電容C1上測(cè)量(圖5)。

5.電感DCR電流檢測(cè)

通過選擇適當(dāng)?shù)脑?R1 × C1 = L/DCR),電容C1兩端的電壓將與電感電流成正比。為了最大限度地減少測(cè)量誤差和噪聲,最好選擇較低的R1值。

電路不直接測(cè)量電感電流,因此無法檢測(cè)電感飽和。推薦使用軟飽和的電感,如粉芯電感。與同等鐵芯電感相比,此類電感的磁芯損耗通常較高。與RSENSE方法相比,電感DCR檢測(cè)不存在檢測(cè)電阻的功率損耗,但可能會(huì)增加電感的磁芯損耗。

使用RSENSE和DCR兩種檢測(cè)方法時(shí),由于檢測(cè)信號(hào)較小,故均需要開爾文檢測(cè)。必須讓開爾文檢測(cè)痕跡(圖5中的SENSE+和SENSE-)遠(yuǎn)離高噪聲覆銅區(qū)和其他信號(hào)痕跡,以將噪聲提取降至最低,這點(diǎn)很重要。某些器件(如LTC3855)具有溫度補(bǔ)償DCR檢測(cè)功能,可提高整個(gè)溫度范圍內(nèi)的精度。

表1總結(jié)了不同類型的電流檢測(cè)方法及其優(yōu)缺點(diǎn)。

表1.電流檢測(cè)方法的優(yōu)缺點(diǎn)

檢測(cè)方法

檢測(cè)誤差

25°C (%)

溫度變化
(%/°C)

檢測(cè)
電感飽和

可靠性/保護(hù)

電流和熱
平衡

元件成本

電源效率

RSENSE

1或5

~0.01

最高

最佳

RSENSE
(0.05至0.20美元)

基準(zhǔn)值

電感DCR

≥10

~0.39

不適用

較高

MOSFET RDS (ON)

≥30

~0.8

較低

最差

不適用

較高

表1中提到的每種方法都為開關(guān)模式電源提供額外的保護(hù)。取決于設(shè)計(jì)要求,精度、效率、熱應(yīng)力、保護(hù)和瞬態(tài)性能方面的權(quán)衡都可能影響選擇過程。電源設(shè)計(jì)人員需要審慎選擇電流檢測(cè)方法和功率電感,并正確設(shè)計(jì)電流檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)。ADI公司的LTpowerCAD設(shè)計(jì)工具和LTspice®電路仿真工具等計(jì)算機(jī)軟件程序,對(duì)簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)工作并獲得最佳結(jié)果會(huì)大有幫助。

其他電流檢測(cè)方法

還有其他電流檢測(cè)方法可供使用。例如,電流檢測(cè)互感器常常與隔離電源一起使用,以跨越隔離柵對(duì)電流信號(hào)信息提供保護(hù)。這種方法通常比上述三種技術(shù)更昂貴。此外,近年來集成柵極驅(qū)動(dòng)器(DrMOS)和電流檢測(cè)的新型功率MOSFET也已出現(xiàn),但到目前為止,還沒有足夠的數(shù)據(jù)來推斷DrMOS在檢測(cè)信號(hào)的精度和質(zhì)量方面表現(xiàn)如何。


 

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