各種玻璃邊形狀如R表面和C表面都可獲得大光量,因而盒內(nèi)玻璃電路板的精確繪圖成為可能。除了清晰的玻璃外,有黑色或黃色涂層的玻璃也可檢測。
隨著玻璃電路板的大型化,其彎曲量也因此變大,但至少有一種可應用于左右彎曲±8°(FD-L45為±6°)的電路板。
檢測距離為3~17mm(FD-L45為10~ 2 5 m m ) , 且由于定位誤差在0.2mm以下,因此可進行更高精度的檢測。
以比以往更小的尺寸達到了同類中最長的檢測距離,用于座式確認十分理想,即使對彎曲的玻璃電路板也可提供穩(wěn)定的檢測性能。
以W7.2H7.5D2mm的極小尺寸收錄于限定反射光學系統(tǒng)中。此外,在無法確保安裝空間的場所、裝置中也可設置,從而大大擴展了其用途。